膜厚仪做为一种测量物体厚度的仪器，在很多的行业领域都得到了广泛的应用，尤其是光学膜厚仪，因为测量精度高、非接触测量方式等优点，受到了众多消费者的喜爱，下面我们就来对它做一个具体的了解。
<1>光学膜厚仪的优点
1.非接触式测量
光学膜厚仪器采用的是光的反射原理进行物体厚度的测量，属于非接触式测量方法，不会对物体早晨告诉任何损伤，能够保证物体的完整性，这也是光学膜厚测量仪受到众多消费者喜爱的原因。
2.测量数据多样
可以测得物体的膜厚度和n，k数据，这是其它型号膜厚仪做不具备的特点。
3.测量迅速
光学膜厚仪的测量过程非常迅速，因为该设备采用了先进的结构设计，能够极大程度的提升测量效率，相比于传统厚度测量仪显得非常轻巧方便。
4.适用范围广
光学膜厚仪的适用范围非常广泛，从普通家用到工厂的工业生产，在到最后的大学实验室和科学研究所，均可以看到它的身影，由此可见它的使用范围更加广泛，能够作业的场合也变得更加多样化。
<2>光学膜厚仪的使用注意事项
1.零点校准
在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准，因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量，零点校准可以消除前次测量有参数的影响，能够降低测量的结果的误差，使测量结果更加精确。
2.基体厚度不宜过薄
在使用光学膜厚仪对物体进行测量时基体不宜过薄，否则会极大程度的影响仪器的测量精度，造成数据结果不准确，影响测量过程的正常进行。
3.物体表面粗糙程度
对于被测物体的表面不宜太过粗糙，因为粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了光学测量仪的测量精度，造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑，以保证测量结果的精确性。
涂层测厚仪的测量原理及分类：
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
涂层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。
